美國福斯特半導體集團（FIRST SEMICONODUCTOR）從事半導體的國際生產廠商及供應商。公司註冊於美國佛羅裏達。工廠設立在泰國，馬來西亞，中國。多年來一直專注於半導體產品研發生產。從晶片到封裝，Firstsemi公司具有強大的科研力量，先進的科研設備，是行業內能提供最全面的半導體產品企業之一。產品主要應用在電源，充電器，UPS，逆變器，小家電，安防，汽車電子，LED照明等領域。

立创商城现推出美国福斯特MOS FIR4N65BPG，FIR7N65FG，FIR12N65FG一系列产品，广泛应用于开关电源，模块电源5瓦，10瓦，15瓦，25瓦，50瓦，75瓦等功率等级。

1.

MOS管FIR4N65BPG,650V/4A 

http://www.szlcsc.com/product/details_95881.html

2.

MOS管7N65，650V/7A 

http://www.szlcsc.com/product/details_95880.html

3.

MOS管FIR12N65FG，650V/12A

http://www.szlcsc.com/product/details_95879.html

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4.

MOS(场效应管)/IPA65R650CE     英飞凌coolmos

http://www.szlcsc.com/product/details_95834.html

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5.

IGBT管/IKW40N120H3                英飞凌IGBT

http://www.szlcsc.com/product/details_95835.html

MOS管FIR4N65BPG,650V/4A 

http://www.szlcsc.com/product/details_95881.html

MOS管7N65，650V/7A 

http://www.szlcsc.com/product/details_95880.html

MOS管FIR12N65FG，650V/12A

http://www.szlcsc.com/product/details_95879.html

MOS(场效应管)/IPA65R650CE     英飞凌coolmos

http://www.szlcsc.com/product/details_95834.html

FIR4N65BPG，650V 4A_商品编号C94683_立创商城.PDF

FIR7N65_PDF_商品编号C94682_立创商城.PDF

MOS管FIR12N65FG，650V 12A_商品编号C94681_立创商城.PDF

IPA65R650CE_商品编号C94636_立创商城.pdf

Infineon-IKW40N120H3-商品编号：C94637-立创商城.pdf

以上为具体的datasheet。

有网友留言，想让我在卖mos的同时，普及一下mos是怎么选型的。 

其实mos的设计主要就是基于几对矛盾的选择。

 而为了针对不同的应用，适应不同的市场需求，各大小厂家生产出了高低电压、大小电流、高低开关阀值等等林林总总几千上万种型号。立创商城上也是有无穷无尽的mos，到底哪个是你想要的呢？ 你是怎么选MOS的？

先借图说明datasheet的主要电参数：

再补充一张图： 

功率MOS器件中，要善于抓主要矛盾：

BV与Rdson是最大的一对矛盾。

BVds在20-100V范围的器件的Rdson的表象关系如下图所示。

可以想象的是，若在保证同样BV的前提下要求Rdson的降低，可看作同样单位的晶胞数量的增加，意味着单位芯片的面积增加，也即意味着单位成本的增加，也即价格上升。

而这个关系，起码在100V-700V的耐压段的器件中，大致是线性增加的关系！

当然，这是在同等工艺前提下的比较。

功率MOSFET的Rdson具有正温度特性。

在一些高温环境的应用，例如汽车电子装备等，在进行散热计算时须充分考虑该特性。

对某一类器件，假定Tc=150时的额定值与Tc=25时的比值为一个固定数值；

100V以下的中低耐压的器件，该数值为1.7-1.8

500V左右的高耐压的器件，该数值为2.4-2.5

根据栅极驱动阀值电压的不同，功率MOSFET会分Vgsth为10V、4V、2.5V等产品类，近年一些如电池管理等应用还出现一些低阀值（1.8V-2.5V）的器件。

在规格书中，一般是通过如下图来描述的：

如何降低Vth，一般是通过栅极氧化膜的薄化来实现。

选用低Vth的器件时，应在设计中充分考虑关断后驱动电压低电平处理，避免续断噪音或失误。

Qg、Qgd是在设计高频应用中开关损耗的重要项目。

如图a中，为达到指定的驱动电压Vgs值（图中xV），栅极的总充电电荷量，即为Qg；Qgd相当与米勒电容Crss，也是影响开关特性的重要参数。两个参数与Vds正相关，Qg与Vds依存关系如图b。

        Ig(peak)=Qg/t

        P(drive loss)=f*Qg*Vgs

在高速开关的应用中，功率MOS的Rdson*Qg的积越小，代表器件性能越好。

在功率MOSFET的D、S极间有个寄生二极管。此二极管的额定电流值Idr和正向D极电流额定值Id相同。

此二极管的特性是：当栅极驱动电压为“零”压降时，此二极管与平常的二极管的正向压降特性相同；当栅极驱动电压为正压降时，此二极管能得到一个即使和肖特基二极管相比还要低的正向压降，如图。此正向压降大小由此时的Rdson决定，Vsd=Id*Rdson

        防止电池反接的负载开关

        替代电机驱动电路的外接二极管

        开关电源的二次侧同步整流电路

在充分发挥MOSFET寄生二极管的反向特性的电机驱动或开关电源同步整流的应用中，要求此反响恢复时间trr为高速。在这些应用中，由于当电路运行在trr期间时上桥臂/下桥臂短路，导致产生过大的接通损耗。因此，通常在这些应用的控制电路中，需要设计有在切换上/下器件开关的同时是栅极驱动信号断开的Dead Time（比trr长的时间）。

下图为某一30V的功率MOSFET的瞬间热阻θch-c(t)与脉宽PW的关系特性。

此特性是为了计算器件在运行状态时的沟道温度。PW代表单触发脉冲(1 shot single pluse)或连续工作脉冲的脉宽时长。

        首先，f=200Hz即周期时长T=5ms；根据占空比0.2可得PW=1ms；

        然后，从上图查得瞬间热阻θch-c(t)=0.3*1.14=0.342 ℃/W；

        于是可得出在此工作状态下，沟道与外壳的温差ΔTch=θch-c(t)*Pd=0.342*50=17.1 ℃

举个实际例子：
        某稳定运行状态，工作频率F=2 KHz、占空比D=0.2、外加功率Pd=50W，测得外壳温度Tc=85 ℃
            通过上述可得，周期时长T=500 us；因D=0.2，得工作时长t=100 us；所以沟道温度Tch：
            Tch=Tc+Pd*θch-c(t)
                 =85+50*0.22*1.14
                 =97.54 ℃
[再例]
        在上面的稳定运行中，外加一个tp=60 us、峰值功率Pd(peak)=500W的工作脉冲，峰值沟道温度Tch(peak):
        Tch(peak)=Tc + Pd*θch-c(t) + (Pd(peak)-Pd*D)*θch-c(tp)
                      =85 + 50*0.22*1.14 + (500-50*0.2)*0.031*1.14
                      =114.86 ℃

功率MOSFET的Datasheet里，一般都列明该器件的安全工作区域（Area of Safe Operation），下图为某30V的MOSFET的ASO图。

      ①区，受最大额定电流Id(pulse)max限制的区域；

      ②区，受通态电阻Rdson理论限制的区域[Id=Vds/Rdson]；

      ③区，受沟道损耗限制的区域；

      ④区，二次击穿区域；

        *此特性有点类似双极型晶体管，但通过设计改良，近年的器件在此区域已不太明显，参看下面我公司器件提供的ASO图。

      ⑤区，受耐压Vdss限制的区域。

下面提供参照是30V、3.5mR、100A的ASO图

理解MOSFET的安全工作区域中需要了解的：

        1、MOS的击穿本质是“热”击穿（或，能量击穿）。

        与此理解相对的是“电压击穿”、“电流击穿”。其实，若在脉宽足够窄，不足以聚集到击穿能量，MOS的耐受电压或电流是能够突破额定耐压值或额定最大电流的；或者，聚集的能量（热量）能快速地分散走，MOS的耐受电压或电流也是能够扩展的。（这也是研究封装工艺的意义所在！）

        这一点，放在ASO来理解，可看回我公司SD3846dfn的图，在不同脉宽(10ms、1ms、100us、10us)的工作电流下，MOS的安全工作区域是向上拓宽的。

        2、很多MOSFET Datasheet中的Idp或Id大多是估算值。

        查阅Datasheet的Idp或Id，常常看得到的注述是：“Pulse width limited by safe operating area.”（脉宽限于安全区域）或“Current limited by package”（受限于封装）。

 功率MOSFET一般应用在开关场合，因此正常的设计MOS是运行在②区。在实际的电路设计上也应注意控制时序的问题。

        例如某个实际应用中，截止电路的工作电压和栅极驱动电压如果若图中实线所示，也即中断电源电压Vdd的下降时间长于栅极驱动电压Vgs的下降时间时，MOS在t1时间段非充分驱动，有可能会进入到ASO限制区域中的④区和⑤区，有必要确认MOS是否安全。

赶紧地用国际品牌物料。。。