为满足用户对200G和400G高速光模块产品敏捷功能测试的需求，易飞扬推出了200G和400G两款光模块测试仪，两款产品都支持50G PAM4和25G NRZ调制技术。是一款功能齐全、操作简便的手持式误码仪，GUI界面友好。可以对误码率、误码计数器、时间、状态、模块的电源、速率的选择和PRBS模式提供清晰的监控。

ERT误码测试功能

误码率是衡量数据在规定时间内数据传输精确性的指标。在数据传输过程中，传输的一般是逻辑电平‘1’或者逻辑电平‘0’的码元。由于数据传输的信道中可能存在未知的噪声，受信道噪声的影响导致光模块接收的信号出现信息判决错误，把带有逻辑‘0’电平的信息判断成逻辑‘1’的信息，而产生误码。所以在一定时间范围内，误码率是码型传输过程中产生错误的码元数量除以传输的码元总数得到值。

其中易飞扬200G/400G光模块测试仪支持丰富的BERT码型测试：25G NRZ码型 (PRBS7, PRBS9, PRBS21, PRBS23, PRBS31)50G PAM4码型 (PRBSQ7, PRBSQ9, PRBSQ21, PRBSQ23, PRBSQ31)

DDM门限值读取和显示功能

DDM数字诊断监控，全称Digital Diagnostic Monitoring。数字诊断监控有以下功能：

1. 监测模块的工作温度
2. 监测模块的工作电压
3. 监测模块的工作电流
4. 监测模块的发射和接收光功率
5. 显示模块的出厂信息
6. 提示告警/警告

通过对光模块DDM门限值读取和显示功能，可以让系统管理员发现一些潜在问题：电压过高，会击穿CMOS器件；电压过低，激光器不能正常工作；接收功率太高，会损坏接收模块；工作温度太高，会加速器件的老化等。此外，通过对接收到的光功率的监测，可以对线路和远端发射机的性能进行监控。

EEPROM读取功能

EEPROM (Electrically Erasable Programmable read only memory)是指带电可擦可编程只读存储器，是一种掉电后数据不丢失的存储芯片。光模块的EEPROM读取功能包括显示产品型号、供应商名称、产品描述和工作温度范围等，可以快速了解光模块基本信息。

和专业的误码仪相比，易飞扬 400G/200G光模块测试仪具有极高的性价比优势。采用USB通信接口，无需安装任何USB驱动，即插即用。插入电脑端后运行配套GUI软件，可以直接在WIN10 64位操作系统上工作，GUI界面简单友好，满足用户在实验室和生产线条件下的快捷测试，为客户提供极大的便利。

原文链接：易飞扬200G/400G光模块测试仪有哪些功能？