微控制器简称“MCU”(简称“单片机”)，是随着大规模集成电路的出现和发展，将计算机的CPU、RAM、ROM、定时器和多种I/O接口集成在片芯片上，形成芯片级的计算机，为不同的应用场合做不同组合控制。MCU是一种低功耗的微控制单元，适用于各类小家电的控制.目前的32位MCU成为了主流市场,一般使用在较为中高端的产品中,例如灵动微的32位MCU产品，适合使用在手持设备,电机控制,网络通信,无人机等应用范围.

MCU的测试通过测试系统完成，由电子电路和机械硬件组成，是由同一个主控制器指挥下的电源、计量仪器、信号发生器、模式生成器和其他硬件项目的集合体，用于模仿被测器件将会在应用中体验到的操作条件，以一定的方式保证被测器件发到或超越它的那些被具体定义在器件规格书里的设计指标.下面介绍关于MCU组合功能测试。

一．MCU组合功能测试

1．测试MCU软件功能的完善性。这是针对所有单片机系统功能的测试,测试软件是否写的正确完整。

2．老化测试。测试长时间工作情况下,单片机系统的可靠性。必要的话可以放置在高温,高压以及强电磁干扰的环境下测试。

3、ESD和EFT等测试。可以使用各种干扰模拟器来测试单片机系统的可靠性。例如使用静电模拟器测试单片机系统的抗静电ESD能力;使用突波杂讯模拟器进行快速脉冲抗干扰EFT测试等等。

4．上电、掉电测试。在使用中用户必然会遇到上电和掉电的情况,可以进行多次开关电源,测试单片机系统的可靠性。

还可以模拟人为使用中,可能发生的破坏情况。例如用人体或者衣服织物故意摩擦单片机系统的接触端口,由此测试抗静电的能力。用大功率电钻靠近单片机系统工作,由此测试抗电磁干扰能力等。

MCU组合功能测试

1．测试MCU软件功能的完善性。这是针对所有单片机系统功能的测试,测试软件是否写的正确完整。

2．老化测试。测试长时间工作情况下,单片机系统的可靠性。必要的话可以放置在高温,高压以及强电磁干扰的环境下测试。

3、ESD和EFT等测试。可以使用各种干扰模拟器来测试单片机系统的可靠性。例如使用静电模拟器测试单片机系统的抗静电ESD能力;使用突波杂讯模拟器进行快速脉冲抗干扰EFT测试等等。

4．上电、掉电测试。在使用中用户必然会遇到上电和掉电的情况,可以进行多次开关电源,测试单片机系统的可靠性。

还可以模拟人为使用中,可能发生的破坏情况。例如用人体或者衣服织物故意摩擦单片机系统的接触端口,由此测试抗静电的能力。用大功率电钻靠近单片机系统工作,由此测试抗电磁干扰能力等。