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吉时利4200-SCS型半导体特征分析系统
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发表于2021-08-25 19:40:42
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电梯直达
吉时利4200-SCS型半导体特征分析系统JIANG 吉时利4200-SCS型半导体特征分析系统 主要特点及优点: ·直观的、点击式Windows操作环境 ·吉时利4200-SCS半导体I-V测试系统独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA ·吉时利4200KEITHLEY4200用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能 ·集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡 ·内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储 ·独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能 ·吉时利4200-SCS系列内置了Stress/Measure,循环和数据分析功能,通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试,包括5个JEDEC规范的样品测试 ·支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备 ·硬件由keithley交互式测试环境(KITE)来控制,用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充 ·包括驱动软件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自动和手动探针台 ·支持先进的半导体模型参数提取,包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso容易使用的吉时利4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。 KEITHLEY4200-SCS 相关应用: 半导体器件 ·片上参数测试 ·晶圆级可靠性 ·封装器件的特性分析 ·使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析 ·高K栅电荷俘获 ·易受自加热效应影响的器件和材料的等温测试 ·电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度 ·电阻式或电容式MEMS驱动特性分析 光电器件 ·半导体激光二极管DC/CW特性分析 ·收发模块DC/CW特性分析 ·PIN和APD特性分析 科技开发 ·碳纳米管特性分析 ·材料研究 ·电化学 谭S 135-1007-5188 技术咨询:蒋工135-1007-5288 电 话:0755-21502766 传 真:0755-21502722 客 服QQ:53540923 |
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