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LM2596通断电之后损坏的原因分析

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发表于2021-11-04 13:37:04 | 只看该作者
1# 电梯直达

处理客诉时,有客户反馈该物料上机测试有4PCS损坏,测试OK的物料关机再开机后又有1PCS损坏,最终确认是EOS损坏,大家看下是什么问题导致的呢

 


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发表于2021-11-04 14:34:44   |  只看该作者
2#
求防范方法,最近也遇到类似问题

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发表于2021-11-04 15:46:23   |  只看该作者
3#

上电的瞬间损坏,很大可能是电源或者说上电顺序问题。前端是开关电源吗? 

增加个26V TVS试试看。

有的可以有的不行,就与电容C1的ESR不一致等有关了


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发表于2021-11-04 16:25:32   |  只看该作者
4#
才一个100n电容,明显设计问题

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发表于2021-11-05 13:35:21   |  只看该作者
5#
输入电容C1设计的有问题吧?至少得上一个电解电容,靠近IC电源引脚处放置吧?

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发表于2021-11-08 09:33:48   |  只看该作者
6#

 电气测试显示,2PCS其内部的开关管一直为导通状态


2PCS其内部的开关管一直为截至状态

 


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发表于2021-11-09 09:50:12   |  只看该作者
7#

P2P测试显示,

内部开关管一直为导通状态的芯片(输出24V),其on/off对地阻值正常,输出和输入阻值异常(短路)

 

内部开关管一直为截至状态的芯片(输出0V),其on/off对地阻值异常(短路),输出对地阻值异常(短路)

 


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发表于2021-11-11 09:30:15   |  只看该作者
8#

开盖检查显示,

内部开关管一直为导通状态的芯片(输出24V)

 

内部开关管一直为截至状态的芯片(输出0V)

 


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发表于2021-11-11 14:21:18   |  只看该作者
9#
高工,刨片后,看到Die 有烧坏的现象,可是没有说明烧坏的原因:EOS,只是表象,如果是设计的缺陷,后续还会有更多此类的不良...

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发表于2021-11-12 10:59:01   |  只看该作者
10#

  其实设计手册也有提及,使用吸收上电尖峰性能更好的低ESR的铝电解电容或者钽电容来解决电压突变的问题,且合理的布局

  

使用MLCC作为输入会存在电压突变的问题


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发表于2021-11-17 09:17:21   |  只看该作者
11#
结合前面沈工发的帖子提到的DCDC电源的输出电容问题,也是要注意ESR的问题。这个输入使用大容量的电解电容并联MLCC的方案是否可行?

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发表于2021-11-17 17:04:03   |  只看该作者
12#
附件是输入电容不合适引起烧片的原理分析。输入电源滤波电容可能引起的问题.pdf 

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发表于2021-11-18 09:10:43   |  只看该作者
13#
发表于2021-11-17 17:04:03  12# 附件是输入电容不合适引起烧片的原理分析。输入电源滤波电容可能引起的问题.pdf

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发表于2021-11-20 08:56:57   |  只看该作者
14#
所以说使用插件电解电容虽然便宜,确实有问题的话,还是要使用钽电容啊

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发表于2021-11-22 16:33:51   |  只看该作者
15#
选择钽电容也是有风险,低阻抗回路上电瞬间,短时功率很大,会有浪涌电流的故障

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发表于2022-12-01 13:17:40   |  只看该作者
16#
我最近使用这个芯片LM2596S-5V 的过程,也碰到了芯片VIN与VOUT短路的故障问题了。 导致后级电路被烧坏了。 但根本原因不好确定

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