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LM2596通断电之后损坏的原因分析
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立创FAE高工
【官方工作人员】
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发表于2021-11-04 13:37:04
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只看该作者
1#
电梯直达
处理客诉时,有客户反馈该物料上机测试有4PCS损坏,测试OK的物料关机再开机后又有1PCS损坏,最终确认是EOS损坏,大家看下是什么问题导致的呢
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恒温耳机盒
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发表于2021-11-04 14:34:44
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2#
求防范方法,最近也遇到类似问题
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NONE
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发表于2021-11-04 15:46:23
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3#
上电的瞬间损坏,很大可能是电源或者说上电顺序问题。前端是开关电源吗? 增加个26V TVS试试看。 有的可以有的不行,就与电容C1的ESR不一致等有关了 |
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wu
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发表于2021-11-04 16:25:32
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只看该作者
4#
才一个100n电容,明显设计问题
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科学小生
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发表于2021-11-05 13:35:21
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5#
输入电容C1设计的有问题吧?至少得上一个电解电容,靠近IC电源引脚处放置吧?
物联网技术专家
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立创FAE高工
【官方工作人员】
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发表于2021-11-08 09:33:48
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只看该作者
6#
电气测试显示,2PCS其内部的开关管一直为导通状态 2PCS其内部的开关管一直为截至状态
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立创FAE高工
【官方工作人员】
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发表于2021-11-09 09:50:12
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只看该作者
7#
P2P测试显示, 内部开关管一直为导通状态的芯片(输出24V),其on/off对地阻值正常,输出和输入阻值异常(短路)
内部开关管一直为截至状态的芯片(输出0V),其on/off对地阻值异常(短路),输出对地阻值异常(短路)
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立创FAE高工
【官方工作人员】
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发表于2021-11-11 09:30:15
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只看该作者
8#
开盖检查显示, 内部开关管一直为导通状态的芯片(输出24V)
内部开关管一直为截至状态的芯片(输出0V)
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业余的电子爱好者
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发表于2021-11-11 14:21:18
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9#
高工,刨片后,看到Die 有烧坏的现象,可是没有说明烧坏的原因:EOS,只是表象,如果是设计的缺陷,后续还会有更多此类的不良...
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立创FAE高工
【官方工作人员】
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发表于2021-11-12 10:59:01
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10#
其实设计手册也有提及,使用吸收上电尖峰性能更好的低ESR的铝电解电容或者钽电容来解决电压突变的问题,且合理的布局
使用MLCC作为输入会存在电压突变的问题 |
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科学小生
9
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发表于2021-11-17 09:17:21
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11#
结合前面沈工发的帖子提到的DCDC电源的输出电容问题,也是要注意ESR的问题。这个输入使用大容量的电解电容并联MLCC的方案是否可行?
物联网技术专家
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NONE
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发表于2021-11-17 17:04:03
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12#
附件是输入电容不合适引起烧片的原理分析。输入电源滤波电容可能引起的问题.pdf
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科学小生
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发表于2021-11-18 09:10:43
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13#
物联网技术专家
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花好月圆
2
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发表于2021-11-20 08:56:57
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14#
所以说使用插件电解电容虽然便宜,确实有问题的话,还是要使用钽电容啊
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立创FAE高工
【官方工作人员】
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发表于2021-11-22 16:33:51
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15#
选择钽电容也是有风险,低阻抗回路上电瞬间,短时功率很大,会有浪涌电流的故障
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山水100
1
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发表于2022-12-01 13:17:40
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16#
我最近使用这个芯片LM2596S-5V 的过程,也碰到了芯片VIN与VOUT短路的故障问题了。 导致后级电路被烧坏了。 但根本原因不好确定
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