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TEK370B泰克晶体管测试仪
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发表于2022-07-15 19:50:41
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电梯直达
TEK370B泰克晶体管测试仪 主要参数:·半导体器件高精度测量 JIANG-上限达2000V或电流到10A的源(370A) -上限到3000V(371A) -上限到220W(370A) -上限到400A(371A) -1nA的测量分辨率 -上限到3000W(371A) ·上限到2mV的测量分辨率(370A) ·波形对比 ·包络显示 ·波形平均 ·点光标(370A) ·Kelvin传感测量 ·全程控 ·MS-DOS兼容的软盘,方便设置参孝存储和调用 应用 手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量 来料检查 生产测试 过程监视及质量控制 数据报告的生成 元件配对 失效分析 工程测试 交互式程控 所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式,调整和存储操作参数,包括370A的非 易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。 测试夹具 测试夹具是标准附件,它提供被测器件安全防护,以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001,中间通过Kelvin传 感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。 370A程控特性曲线图示仪 370A是全球著名的高分辨率特性曲线图示仪,可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管 、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。 在研发实验室,用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作 在制造过程中,用370A检验器件质量及过程监视。 370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。 技术指标集电极电源模式 AC,±DC,±泄露,±整流的正弦波范围最大峰值电流(±)峰值电流(脉冲式)(±) 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器模式阶梯:DC,80μS脉冲,300μS脉冲阶梯量程- 电流: 50nA到200mA,按1-2-5顺序电压: 50mV到2V,按1-2-5顺序偏置最大到±10X阶梯幅度阶梯数 0到10 测量特性集电极电流- 测试量程: 100nA/p(1nA分辨率)至2A/p误差,1.5%光标读出+0.05p设定值(点光标)发射极电流- 测试量程: 1nA/p(10pA分辨率)至2mA/p 误差 1.5%光标读出+0.05p设定值+1nA 安全标准 UL1244,CSA231,HD401S1
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